NXP采用R&S RTS测试系统，验证28纳米RFCMOS雷达单芯片 |百能云芯

Rohde & Schwarz的雷达目标模拟器R&S RTS，作为汽车雷达的颠覆性解决方案，尤其是其能够电子模拟非常近距离物体的能力，已被用于验证NXP半导体的下一代雷达传感器参考设计的性能。 这一合作使汽车行业在汽车雷达的发展上迈出了一步，该技术是实现先进驾驶辅助系统（ADAS）和自动驾驶功能的主要技术。

据百能云芯电子元器件商城了解，两家公司的工程师进行了一系列全面的测试，以验证基于NXP的28纳米RFCMOS雷达单芯片SoC（SAF85xx）的新传感器参考设计。 R&S RTS雷达测试系统结合了R&S AREG800A汽车雷达回波生成器和R&S QAT100天线毫米波前端，提供了独特的近距离物体模拟能力，以及卓越的射频性能和先进的信号处理功能。 这使得对下一代汽车雷达应用进行实际测试，并让汽车行业对完全自动驾驶的愿景更近一步成为可能。

NXP的下一代汽车雷达传感器参考设计由产业首款28纳米RFCMOS雷达单芯片SoC家族支持，利用了R&S RTS雷达测试系统。 该雷达传感器参考设计可用于短、中和长距离雷达应用，以满足具有挑战性的NCAP（新车安全评级）的安全要求，以及高速驾驶员辅助系统（L2+和L3车辆）快速增长的领域的舒适功能。

R&S RTS是唯一适用于雷达传感器完整特性化和对象距离下降到待测雷达的气隙值的测试系统。 它将R&S AREG800A汽车雷达回波生成器作为后端，并使用R&S QAT100天线阵列或R&S AREG8-81S作为前端。 这个优秀的测试解决方案适用于整个汽车雷达生命周期，包括开发实验室、硬件在环（HIL）、车辆在环（VIL）、验证和生产应用要求。 该解决方案还是完全可扩展的，可以模拟高级驾驶辅助系统的最复杂交通场景。

NXP半导体的先进驾驶辅助系统研发高级总监Adi Baumann表示：“多年来，我们一直与Rohde & Schwarz密切而成功地合作，验证我们汽车雷达传感器参考设计。 Rohde & Schwarz领先的汽车雷达测试系统使我们能够高质量、高效地验证我们的汽车雷达产品，并证明了我们的雷达芯片的出色性能。 Rohde & Schwarz为NXP提供的经验水平、质量和支持正在产生积极影响。 ”

Rohde & Schwarz信号产生器、电源和仪表副总裁Gerald Tietscher表示：“我们感谢与NXP的合作，加速基于28纳米汽车雷达芯片的先进汽车雷达传感器的部署。 它们服务于越来越具有挑战性的NCAP安全要求，并将有助于实现新的安全应用。 我们在汽车雷达测试方面的经验使我们能够为这款行业首款28纳米RFCMOS单芯片雷达SoC的雷达传感器设计提供最佳的测试解决方案。 ”

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