-----本文简介-----
主要内容包括:
????①:热性能基本概念
????②:LDO热性能应用估算
????③:提高LDO热性能方式
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电源之LDO-1.LDO基础知识
电源之LDO-2. LDO的压降
电源之LDO-3. LDO的热性能
电源之LDO-4. LDO的电源抑制比
电源之LDO-5. LDO的噪声
电源之LDO-6. LDO的输出电容
电源之LDO-7. LDO的电流相关概念
电源之LDO-8.LDO选型与计算
电源之LDO-9.LDO的PCB布板
-----正文-----
一、基本概念
? ? ? ??点击阅读参考文章:(其他平台移步公众号阅读)①:IC与器件的热设计
②:热设计(下篇)
????????重新了解以下的几个概念:
????????①?工作结温Tj(Operating Junction Temperature Range)工作状态时内核温度,一般的IC结温范围在(-40~125℃)或(-40~80℃)。
????????② 环境热阻系数(θJA)指内核到外部环境(空气)的热阻系数。
????????③ 封装热阻系数(θJC)指内核到封装表面的热阻系数。
????????④?φJT-内核到封装上表面中心点的热阻。
????????Tj==Ta+( θJA × P ) = Tc+(?θJC × P )=Tt+(φJT?x P),其中Ta为环境温度,Tc为封装表面温度,Tt为封装表面中心点的温度,P为IC耗散功率,即结温等于环境温度+环境中热阻系数*功率,或者等于封装表面温度+内核到封装表面热阻系数数*功率,或者等于封装表面中心点温度+内核到封装上表面中心点的热阻*功率。
二、LDO的热性能与什么有关?
? ? ? ??由基本概念我们可以得出:LDO的热性能与封装、功率、运行环境温度有关。下面我们举例分析。
????????我们以萨科微公司的AMS1117-3.3为例,其数据手册提供的封装热阻系数如下:
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?
图1 SOT-89封装
????可以看出不同的封装热阻系数不同,由Tj==Ta+( θJA × P )得出,相同功率下,热阻系数越小,内核温度越低,也就越安全。同理可以得出,功率越小、环境温度越低内核越安全。
????????例如,TO-252封装的AMS1117-3.3输入电压5V,输出功率1A,则其消耗功率P=(5-3.3)*1=1.7W,温升=θJA × P=125*1.7=212.5℃,即在常温下内核温度等于212.5+25=237.5℃,远高于其内核最高温度125℃,意味着LDO会损坏。反过来计算,在5V输入电压、常温环境下,长时间输出电流不能大于(125-25)/125/(5-3.3)=0.47A,即电流不能超过0.47A。
? ? ? 考虑到PCB空间,实际可能使用体积比TO-252更小的SOT223或SOT89封装,此时的长时间工作电流要更小,需要权衡使用。
? ????以上是用θJA 估算的热性能参数,实际上另外还有多种方式,但由于很多数据手册并不会给出φJT或θJC参数,所以用θJA更方便,如果数据手册给出了另外的参数,可以(点击参考IC与器件的热设计,其他平台移步公众号阅读)来计算,会更精确。
??三、?如何提高LDO的热性能?
????????①? 选择合适的封装,在PCB空间允许的情况下尽量选取大封装LDO。
????????②? 降低输入与输出压差,在满足LDO最低工作压降的情况下,可以在电源Vin与LDO输入引脚之间串联一个功率合适的电阻消耗部分电压。
?
图2 串联1Ω电阻消耗1W功率
????????③?有必要的情况下可以在LDO表面贴装散热器。
????????④?做好PCB散热,LDO布局时远离其他发热器件;增大LDO接地平面、Vin、Vout平面的面积。
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