电源芯片浪涌电流如何产生?该怎么测试?

发布时间:2024年01月08日

  对于电源芯片的设计和制造商来说,防止芯片受到电源干扰是非常重要的。为了保障芯片能正常稳定运行,浪涌测试无疑是必要的。本篇文章将全方位为你介绍浪涌电流如何产生以及如何测试的过程。

  电源芯片浪涌电流的产生原因

  1.开关电源切换和电压突变

  在电源开关时,由于瞬间电容器的放电,电路中会发生短暂的电压上升,进而使电流出现短暂的增加,此时就会出现浪涌电流现象。而在电力系统中,由于突发的电压变异,例如由强雷电引起的电压变化,也可以导致浪涌电流的产生。

  2.电力设备的瞬态过程

  当电力设备启动、停止或运行时,电机转子的运动会导致出现短暂的电压上升,机械开关的切换也同样会导致浪涌电流的产生。

  3.短路故障

  当电路中出现短路故障,无论在低压配电网中还是在高压输电线路中,都会导致电流的瞬间上升,这样的电流大多数都是浪涌电流。

  浪涌电流可能会对电路和电子设备造成很大的损害,包括器件损坏、断路等等。当大量的浪涌电流流过电路时,会引起短暂的电荷积累和放电,并在电压的交变方向上产生高电压尖峰,对电子设备造成极大的损害。浪涌电流还会导致设备的电磁兼容性问题,影响设备的EMI防护性能和信号完整性。这可能会导致通信故障、数据丢失、控制系统失败等问题。

  浪涌电流测试时需要一台示波器和电源即可,通过电源给芯片提供电压电流,示波器在芯片的输出端测试浪涌电流即可,具体的测试方法可看:https://www.bilibili.com/video/BV17d4y1T7Cg

文章来源:https://blog.csdn.net/namisoft123/article/details/135460626
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