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千分尺
型式:测砧为固定的千分尺,
测量范围:0~25,测量上限:25,测量下限:0,
分度值/?分辨率:0.01,校对量杆标称尺寸:25]?
一、依据文件
CNAS CL01-G002-2021 《测量结果的计量溯源性要求》现行有效
RB/T 034-2020 《测量设备校准周期的确定和调整方法指南》 现行有效
CNAS TRL-004-2017 《CNAS技术报告 测量设备校准周期的确定和调整方法指南》 现行有效?
JJG 21-2008《千分尺检定规程》?现行有效
二、溯源方法
1.校准方式 ?现场校准
2.溯源方法 ??具备能力的实验室提供的校准 ?校准证书
三、校准周期
1.首次校准周期?
2、后续校准周期调整方法
简单反应调整法
3、后续校准周期调整判定原则
反应调整法是基于风险考虑，根据设备初始校准后、经一定时间间隔(初始校准周期)的后续校准结果 来确定后续校准周期:
1)若校准结果位于最大允许误差的80%内，则后续的校准周期可延长;?2)若校准结果超出最大允许误差， 则后续校准周期应缩短;?3)若校准结果位于最大允许误差80%和100%之间，或对校准结果的符合性难以做出判断， 则实验室应 考虑缩短校准周期或增加期间核查频次，对设备的性能做进一步验证。 注:检测/校准方法对设备的要求用?“?最大允许误差”?来表述， 泛指方法对设备所规定的各项技术指 标， 包括示值误差、 重复性、 稳定性、检出限、 鉴别阈等。
四、校准项目
外观
5.1.1千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈 蚀、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清 晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、 完整。?5.1.2千分尺应附有调整零位的工具，测量上限 大于或等于25mm的千分尺应附有校 对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装 置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。?5.1.3千分尺上应标有分度值、测量范围、制造 厂名(或厂标)及出厂编号。?5.1.4后续检定和使用中检验的千分尺及其校对 用的量杆不应有影响使用准确度的外 观缺陷。
各部分的相互作用
5.2.1微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡 滞现象。
5.2.2?可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要 可靠，调零和锁紧装置的作用应
切实有效。
5.2.3?带有表盘的千分尺，表针移动应灵活、 无卡滞现象。
5.2.4?数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。
测微螺杆的轴向串动和径向摆动
要求：4.1?测微螺杆的轴向串动和径向摆动测微螺杆 的轴向串动和径向摆动均不大于?0.01 mm。
限值：测微螺杆的轴向串动:X<=0.01mm?测微螺杆的径向摆动:X<=0.01mm
测砧与测微螺杆 测量面的相对偏移
4.2?测砧与测微螺杄测量面的相对偏移测砧与 测微螺杆测量面的相对偏移量应不超过表?1规 定。
测砧与测微螺杆测量面的相对偏移:X<=0.05mm
测力
千分尺的测力(系指测量面与球面接 触时所作用的力)应为(5~10)N。
测力:X>=5N?AND X<=10N
刻线宽度及宽度差
4.4?刻线宽度及宽度差微分筒刻线宽度为?(0.08~0.20)mm，固定套管上的刻线与微分 简上的刻线的宽度差均应不大于?0.03 mm。带 刻度盘的刻线宽度为(0.20~0.30)mm，其宽度 差应不大于0.05 mm。
刻线宽度差:X<=0.03mm
微分简锥面的端 面棱边至固定套 管刻线面的距离
4.6?微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面 的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的 距离应不大于.0.4 mm。
微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离: X<=0.4mm
微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离: X<=0.4mm
微分筒锥面的端 面与固定套管毫 米刻线的相对位置
4.7?微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的 相对位置当测量下限调整正确后，微分筒上的 零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端 面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相 切，压线不大于0.05mm，离线不大于?0.1mm。
微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置: X>=-0.05 AND X<=0.1
测量面的平面度
4.8?测量面的平面度外径千分尺测量面的平面 度应不大于?0.6um。壁厚千分尺、板厚千分尺 测量面的平面度应不大于1.5um。数显外径千 分尺测量面平面度应不大于0.3um。
外径千分尺测量面的平面度:X<=0.6μm
两测量面的平行度
外径千分尺锁紧装置坚固与松开时，千分尺两 工作面的平行度均应不超过表2规定。 板厚千分尺两测量面的平行度应不超过?4 μm。 数显外径千分尺两测量面的平行度应不超过表?3规定。
外径千分尺两测量面的平行度:X<=2μm?
外径千分尺两测量面的平行度:X<=2μm
示值误差
外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2?规定。
壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差 应不超过士8 μm。 数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过 表3规定。
对于测量上限大于?150 mm?的千分尺可只检测 微头示值误差，测微头各点相对于零点的示值 最大允许误差不超过士3μm。
外径千分尺示值的最大允许误差:
校准点1:5 X>= -4μm?AND X<=4μm
校准点2:10 X>=-4μm?AND X<=4μm?
校准点3:15 X>=-4μm?AND X<=4μm?
校准点4:20 X>=-4μm?AND X<=4μm
校准点5:25 X>=-4μm?AND X<=4μm
校对用量杆
外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应 不超过表4规定。
数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动 量应不超过表5?规定。
外径千分尺平测量面校对用量杆尺寸偏差:X>= -2μm?AND X<=2μm
外径千分尺平测量面校对用量杆尺寸变动量: X<=1μm
外径千分尺球测量面校对用量杆尺寸偏差:X>= -2μm?AND X<=2μm
外径千分尺球测量面校对用量杆尺寸变动量: X<=1μm
五、校准证书确认要求
1 ?检定/校准证书的的完整性和规范性是否符合要求;
2 ?校准/检定机构资格是否满足要求，具备相应认可资质或法定授权，且校准/检定参数在测量 能力范围内;
3 ?校准/检定参数是否满足检验方法要求和预期使用要求;
4 ?校准结果或检定结论是否准确;
5 ?校准结果或检定结论是否有不确定度信息;
6 ?校准结果或检定结论是否能溯隙全国家基准;
7 ?计量溯源结果符合性确认;是否符合要求
8 ?计量溯源结果符合性确认;是否使用了修正值、修正因子
六、校准结果的处理方式
?A、校准/检定结果满足要求，根据证书、报告数据、结果判定该设备能使用
B、根据证书、报告数据、结果判定该设备需降级使用?
C、根据校准/检定，测试产生的修正因子/修正值要对设备进行修正，根据修正因子/修正值的要求修订校准方案。
D、校准/检定结果不满足要求，立即停用设备，并建立不符合工作项目，对相关数据进行追溯，制定 报废、维修计划，维修后重新进行校准，合格后方可重新投入使用。
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