ESD静电的危害与失效类型及模式？|深圳比创达电子

一、ESD的危害

1、失效的电子设备有60%~75%都是由ESD造成的；

2、对于新兴技术行业，尤其是高科技微电子，半导体，电磁敏感类及光器件的应用，比例将上升到90%。 因静电原因造成的电子行业的损失每年都多达几百亿美元；

3、静电放电能够产生高频脉冲电流，同时产生高频脉冲干扰，导致设备收到错误指令而误操作，从而对产品或设备产生危害；

4、静电放电能够导致微电子器件损坏或击穿，同时可引起功能退化或潜在性失效；

5、静电放电产生的高压，会危及人身的安全；

6、在易燃易爆品或粉尘，油雾等生产场所易引起爆炸和火灾。

二、ESD引起的失效类型

1、感应或干扰失效

静电放电产生电火花，电脉冲，形成干扰信号，设备接受错误信息。

2、直接接触放电

电子器件或系统成为ESD的导电通路，与电压有关；

引起介质击穿，表面击穿，气体电弧放电，与功率有关；

金属化层融化，体击穿。

三、ESD引起的失效模式

1、硬损伤(突发性完全失效）

约占10%。表现为电器参数完全突然恶化，失去原有功能。主要原因是静电放电造成过压使介质击穿，或过流使内部金属导线焰断，硅片局部融化等。

2、软损伤(潜在性失效）

约占90%。受损伤的器件的各类电器参数仍合格，但其使用寿命却极大缩减。产品或系统可靠性降低，后续使用过程中继续遭受ESD软损伤或其他力损伤累积而过早失效。

以上就是小编给您们介绍的ESD静电的危害与失效类型及模式的内容，希望大家看后有所帮助！